幹(gān)膜(mó)厚度(dù)

在(zài)實(shí)際工作(zuò)中(zhōng)大量遇到(dào)的是(shì)幹(gān)膜(mó)厚度的測量，因(yīn)為塗料(liào)的(dí)某些物理(lǐ)性能的測定及耐(nài)候性(xìng) 等專用性(xìng)能(néng)的(dí)試驗(yàn)均(jūn)需把塗料製成試板，在一(yī)定(dìng)的膜(mó)厚(hòu)下進行(háng)測(cè)試
。幹(gān)膜厚度(dù)的測量方法較 多(duō)，按(àn)工作(zuò)原理來分，基本(běn)上分為(wéi)磁(cí)性法和(hé)機械法(fǎ)兩類，此(cǐ)外還(huán)有顯微鏡(jìng)法
。本(běn)文介紹的(dí)是用磁性法對幹膜(mó)厚(hòu)度(dù)進(jìn)行(háng)測(cè)量
。

範圍(wéi)及說(shuō)明

本(běn)方(fāng)法為非(fēi)破壞性(xìng)儀器的(dí)測(cè)最方法
。根據(jù)被(bèi)測底材的(dí)不同，可分為磁性測(cè)厚(hòu)儀和非磁性(xìng)測(cè)厚(hòu)儀，分別適用(yòng)於磁性金(jīn)屬(shǔ)底(dǐ)材及非磁(cí)性金(jīn)屬(shǔ)底(dǐ)材上(shàng)漆(qī)膜(mó)幹(gān)膜厚度的測(cè)定(dìng)，是目前幹膜(mó)厚 度(dù)測量的主(zhǔ)要方法(fǎ)
。
磁(cí)性(xìng)測厚儀(yí)主(zhǔ)要是(shì)利用電磁場磁(cí)阻原理(lǐ)，通(tōng)過(guò)流人(rén)鋼(gāng)鐵底材的磁通量大(dà)小，即(jí)磁(cí)體(tǐ)與磁 性(xìng)底材之(zhī)間(jiān)間(jiān)隙的變化(huà)引起磁通最的(dí)改(gǎi)變來(lái)測定(dìng)漆(qī)膜厚度
。也(yě)有(yǒu)利用(yòng)磁(cí)吸力法(fǎ)原理，即以克(kè) 服永磁鐵(tiě)與磁性底(dǐ)材之間的磁(cí)引(yǐn)力所(suǒ)需的力來測量漆膜(mó)厚(hòu)度
。非磁(cí)性(xìng)測厚(hòu)儀則利用渦(wō)流(liú)測 厚原(yuán)理(lǐ)來(lái)測量(liáng)，即感(gǎn)應(yīng)渦(wō)流的大小是隨儀(yí)器(qì)探頭綫圈與(yǔ)金屬底材件漆膜厚(hòu)度(dù)的大小而變化， 通(tōng)過感應渦流的變化測量諸如(rú)鋁板(bǎn)
，銅板等(děng)不(bù)導磁(cí)底板上塗層的厚(hòu)度(dù)
。

儀器(qì)和(hé)材料

測厚儀：精(jīng)確(què)度(dù)為(wéi)2μm，有台式(shì)和(hé)便(biàn)攜(xié)式(shì)，規(guī)格有(yǒu)刻(kè)度盤式和數字(zì)顯示(shì)式(shì)，如下圖所示
。 

測(cè)定方法

（1）刻(kè)度(dù)盤式(shì)測厚儀

①手動(dòng)式將測(cè)頭置於被(bèi)測漆膜(mó)上(shàng)，用(yòng)手指(zhǐ)把儀器(qì)刻(kè)度(dù)盤緩(huǎn)慢(màn)向(xiàng)前推(tuī)，聽到“嗒(tà)"一 聲(shēng)響，停(tíng)止(zhǐ)推動(dòng)，指針所(suǒ)指(zhǐ)讀數即(jí)為(wéi)該樣板(bǎn)的漆膜厚(hòu)度
。

②自動式將刻(kè)度(dù)盤(pán)向(xiàng)前推(tuī)至最大量程，按動(dòng)按(àn)鈕(niǔ)，儀(yí)器自(zì)動(dòng)進行(háng)測定(dìng)
。

（2）數顯(xiǎn)式(shì)磁性測厚儀(yí)在性質(zhì)相似(sì)於受(shòu)試底(dǐ)材的參照表(biǎo)麵上，小(xiǎo)心地調(tiáo)至(zhì)零位(wèi)，然(rán)後 用(yòng)儀器(qì)附帶的標準(zhǔn)片校準
。測(cè)量時(shí)將探頭(tóu)放(fàng)在樣(yàng)板上，取距邊緣(yuán)不(bù)少於(yú)1cm的上
，中(zhōng)
，下(xià) 三個位置(zhì)進行測量(liáng)，讀取漆膜(mó)厚度(dù)值(zhí)
。

結果(guǒ)表示

取(qǔ)各(gè)點(diǎn)厚度的算術平(píng)均值為漆(qī)膜的平均(jūn)厚度值
。