影響磁性(xìng)測厚儀(yí)測量精度(dù)的(dí)因素主(zhǔ)要(yào)有：基(jī)體金(jīn)屬(shǔ)磁(cí)性，基體(tǐ)厚(hòu)度，邊(biān)緣(yuán)效應，曲率(shuài)，表麵(miàn)粗(cū)糙度(dù)，外(wài)界磁場，附著物質，測頭(tóu)壓(yā)力(lì)，測頭位(wèi)置(zhì)，試樣的變(biàn)形(xíng)等。 　　

一，影(yǐng)響測(cè)量精(jīng)度的因(yīn)素及有(yǒu)關說(shuō)明(míng)  　　

⒈ 基體金屬(shǔ)磁性(xìng)  　　

磁性(xìng)法(fǎ)測(cè)厚受(shòu)基(jī)體金屬磁(cí)性變(biàn)化(huà)的影響（在實際(jì)應(yīng)用(yòng)中(zhōng)
，低碳(tàn)鋼(gāng)磁(cí)性的(dí)變(biàn)化可以(yǐ)認(rèn)為(wéi)是(shì)輕(qīng)微的）
，為了(liǎo)避(bì)免(miǎn)熱處(chǔ)理及(jí)冷加(jiā)工因素的影響
，應(yīng)使(shǐ)用與試(shì)件(jiàn)基體(tǐ)金屬(shǔ)具有相同(tóng)性(xìng)質(zhì)的(dí)標準(zhǔn)片對儀(yí)器(qì)進行(háng)校(xiào)準。亦可用待(dài)塗覆試(shì)件(jiàn)進(jìn)行(háng)校(xiào)準。  　　

⒉ 基體(tǐ)金屬厚度(dù)  　　

每(měi)一種(zhǒng)儀器都(dū)有一個基體(tǐ)金(jīn)屬的臨(lín)界(jiè)厚度(dù)。大(dà)於這個厚(hòu)度(dù)
，測(cè)量就不受基體金屬(shǔ)厚(hòu)度的影響。  　　

⒊ 邊(biān)緣效應  　　

儀器對試件表(biǎo)麵(miàn)形狀(zhuàng)的(dí)陡(dǒu)變(biàn)敏(mǐn)感。因此在靠(kào)近試件(jiàn)邊緣或(huò)內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。  　　

⒋ 曲(qū)率(shuài)  　　

試件(jiàn)的(dí)曲(qū)率(shuài)對(duì)測量有(yǒu)影(yǐng)響。這種影響(xiǎng)總是隨(suí)著(zhuó)曲率(shuài)半(bàn)徑(jìng)的減(jiǎn)少(shǎo)明顯地(dì)增(zēng)大。  　　

⒌ 表麵(miàn)粗糙(cāo)度  　　

基體(tǐ)金(jīn)屬(shǔ)和覆蓋層(céng)的表(biǎo)麵粗(cū)糙程(chéng)度對(duì)測量有(yǒu)影響。粗糙程度增大(dà)
，影響(xiǎng)增大。粗(cū)糙(cāo)表麵會(huì)引(yǐn)起係(xì)統誤差和(hé)偶然(rán)誤(wù)差(chà)
，每(měi)次(cì)測量時(shí)
，在(zài)不(bù)同(tóng)位(wèi)置上應增加測(cè)量的(dí)次(cì)數(shù)
，以(yǐ)克服這種偶然誤差。如果基體(tǐ)金屬粗糙
，還需要在未塗覆的(dí)粗糙度相(xiāng)類(lèi)似(sì)的基體(tǐ)金(jīn)屬試(shì)件上(shàng)取幾個位(wèi)置校對儀器(qì)的零(líng)點;或用(yòng)對(duì)基體金屬沒有(yǒu)腐蝕的溶(róng)劑(jì)溶解除去覆蓋(gài)層(céng)後
，再校對儀器的(dí)零點。  　　

⒍ 磁(cí)場  　　

周(zhōu)圍(wéi)各(gè)種(zhǒng)電氣(qì)設備所產(chǎn)生的(dí)強磁場(cháng)
，會嚴重地(dì)幹(gān)擾(rǎo)磁性法測厚工作。  　　

⒎ 附著(zhuó)物(wù)質  　　

對那些(xiē)妨礙(ài)測(cè)頭與(yǔ)覆蓋層表麵(miàn)緊密接觸的附(fù)著物質敏(mǐn)感(gǎn)
，因(yīn)此
，需要(yào)清除附著物質(zhì)
，進(jìn)而保證儀(yí)器(qì)測(cè)頭和被(bèi)測試件表麵(miàn)直接接觸。  　　

⒏ 測頭壓(yā)力  　　

測頭置(zhì)於試件(jiàn)上(shàng)所(suǒ)施(shī)加(jiā)的壓力大(dà)小(xiǎo)會影(yǐng)響(xiǎng)測(cè)量的讀數(shù)
，因此儀器(qì)測頭(tóu)用彈簧保持一個基(jī)本(běn)恒定(dìng)的(dí)壓力。  　　

⒐ 測(cè)頭的(dí)放(fàng)置(zhì)  　　

測(cè)頭的放(fàng)置方(fāng)式(shì)對(duì)測(cè)量有(yǒu)影響。在測量中
，應當使(shǐ)測頭與試(shì)樣表麵保(bǎo)持(chí)垂直。  　　

⒑ 試(shì)件的(dí)變形  　　

測(cè)頭(tóu)會使軟(ruǎn)覆蓋層試(shì)件變(biàn)形
，因此(cǐ)在這些試(shì)件(jiàn)上(shàng)會測(cè)出不太可(kě)靠的數據。  　　

二(èr)，使(shǐ)用儀器時應當(dāng)遵(zūn)守(shǒu)的(dí)規定  　　

⒈ 基(jī)體金屬特性  　　

標準(zhǔn)片的基體(tǐ)金(jīn)屬(shǔ)的(dí)磁(cí)性和表麵粗糙度
，應當(dāng)與試件基(jī)體(tǐ)金屬(shǔ)的(dí)磁性和表麵粗(cū)糙度相(xiāng)似。  　　

⒉ 基體金屬厚(hòu)度  　　

檢(jiǎn)查基(jī)體金(jīn)屬厚度是(shì)否(fǒu)超(chāo)過臨(lín)界(jiè)厚度。  　　

⒊ 邊緣效應(yīng)  　　

不應(yīng)在(zài)緊靠試件的(dí)突變處(chǔ)
，如(rú)邊(biān)緣，洞(dòng)和(hé)內轉角等(děng)處進(jìn)行測量。  　　

⒋ 曲(qū)率  　　

不應在(zài)試(shì)件彎(wān)曲表(biǎo)麵(miàn)上測量(liáng)。  　　

⒌ 讀數次(cì)數  　　

通常由於(yú)儀(yí)器的每次讀(dú)數並(bìng)不相(xiāng)同(tóng)
，因(yīn)此(cǐ)需要在(zài)每(měi)一測(cè)量(liáng)麵積內取幾(jī)個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的(dí)局部差異
，也(yě)要(yào)求在zhi定的麵積內進行多次測量
，表麵粗糙時(shí)更(gēng)應如此(cǐ)。  　　

⒍ 表(biǎo)麵清潔(jié)度(dù)  　　

測量(liáng)前
，應清除表麵上(shàng)的任何附著物質(zhì)
，如(rú)塵(chén)土(tǔ)，油脂及腐(fǔ)蝕(shí)物質(zhì)等
，但不要除(chú)去任(rèn)何覆(fù)蓋(gài)層(céng)物質(zhì)。